基于最小二乘优化的全物理偏振参数的测量装置和方法[发明专利]
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专利名称：基于最小二乘优化的全物理偏振参数的测量装置和
方法
专利类型：发明专利
发明人：王春华,李力,黄肇明,刘涛,何星剑申请号：CN201110440836.X申请日：20111226公开号：CN102519713A公开日：20120627
摘要：本发明涉及一种基于最小二乘优化的全物理偏振参数的测量装置和方法。测试装置由激光器、起偏器、两级级联相位调制器、被测器件和偏振分析仪构成。由激光器产生的光经过起偏器输出线偏振光后进入两级级联相位调制器，调制器输出直接或经过被测器件后进入偏振分析仪，由偏振分析仪测出该两种情况下，对应同一组光电调制器调制电压，被测器件的输入和输出光偏振态的Stokes参量。根据被测器件输入输出偏振态和反映被测器件的退偏特性、偏振相关损耗特性以及双折射特性的Mueller矩阵的关系，建立包含全部16个描述器件偏振性质的物理参数的系统方程组。通过最小二乘法数值求解该方程组，便可优化得出所求的16个物理偏振参数。
申请人：上海大学
地址：200444 上海市宝山区上大路99号
国籍：CN
代理机构：上海上大专利事务所(普通合伙)
代理人：何文欣
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