您好,欢迎来到锐游网。
搜索
您的当前位置:首页一种红外测温中测量辐射率的装置[实用新型专利]

一种红外测温中测量辐射率的装置[实用新型专利]

来源:锐游网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种红外测温中测量辐射率的装置专利类型:实用新型专利发明人:李又容,田乃良,王克非申请号:CN200720149604.8申请日:20070613公开号:CN201053903Y公开日:20080430

摘要:本实用新型属于非接触式测量仪器,涉及一种红外测温中测量辐射率的装置,光学接收器、光电转换单元、前置放大单元、信息处理单元及显示单元,光电转换单元第二输入端与光学接收器的第一输出端连接;前置放大单元第三输入端与光电转换单元第二输出端连接;信息处理单元的第四数据输入接口与前置放大单元的第三输出端连接;显示单元第五数据输入接口端与第四输出数据接口连接。在光电转换单元与前置放大单元通过平衡法抵消温度变化带来的影响。采用光学法对光学接收器的感光能力进行量化识别,达到严格筛选,使得本机在环境温度大幅度变化时,测量精度不受影响。用于高温冶炼炉、高温隧道炉、窑炉、高温燃烧室及高精度测温的高温环境。

申请人:北京安基拉科技发展有限公司

地址:1000 北京市宣武区建功西里天缘公寓A座1130室

国籍:CN

代理机构:中科专利商标代理有限责任公司

代理人:周国城

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容

Copyright © 2019- ryyc.cn 版权所有 湘ICP备2023022495号-3

违法及侵权请联系:TEL:199 1889 7713 E-MAIL:2724546146@qq.com

本站由北京市万商天勤律师事务所王兴未律师提供法律服务