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一种PCIE设备的调试装置和方法[发明专利]
来源：锐游网
专利内容由知识产权出版社提供
专利名称：一种PCIE设备的调试装置和方法专利类型：发明专利发明人：朱敏,吴汉明
申请号：CN201910977753.0申请日：20191015公开号：CN111124977A公开日：20200508
摘要：本发明涉及一种PCIE设备的调试装置和调试方法。现有的调试与测试装置，只能抓取PCIE数据包与分析数据，缺少可控的能够精确产生PCIE数据包激励的机制，无法对PCIE底层协议进行调试，缺乏在PCIE设备，特别是PCIE芯片，设计与测试过程中的可控调试手段。本发明所述的装置及方法可以对PCIE设备底层协议进行调试与测试，通过主机端的通信模块，可以精确控制产生PCIE存储、IO、配置与消息包，并可以读取链路训练、测试、枚举、事务收发过程中的状态信息与数据。采用本发明所述装置和方法可实现PCIE设备特别是底层协议的可控调试，提高调试准确性和效率。
申请人：芯创智(北京)微电子有限公司
地址：100176 北京市大兴区北京经济技术开发区荣华中路10号1幢A座17层1717
国籍：CN
代理机构：北京天悦专利代理事务所(普通合伙)
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