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基于柱面扫描三维近场成像的反向散射截面测量方法
来源：锐游网
（19）中华人民共和国国家知识产权局
（12）发明专利申请
（21）申请号 CN201410429761.9 （22）申请日 2014.08.28
（71）申请人 中国科学院电子学研究所
地址 100190 北京市海淀区北四环西路19号
（10）申请公布号 CN104215953A
（43）申请公布日 2014.12.17
（72）发明人 吕晓德;邢曙光;丁赤飚;林宽
（74）专利代理机构 中科专利商标代理有限责任公司
代理人 曹玲柱
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
基于柱面扫描三维近场成像的反向散射截面测量方法
（57）摘要
本发明提供了一种基于柱面扫描的三维近
场成像的反向散射截面测量方法。该反向散射截面测量方法包括：在所选定的频率范围内，收发天线以一定的步进频率沿设定的圆柱表面进行扫描测试，获得未放置待测目标时和放置待测目标后的散射回波数据；根据未放置待测目标时和放置待测目标后的散射回波数据计算背景对消后待测目标真实的散射回波数据；利用背景对消后待测目标真实的散射回波数据进行三维成像，得到
目标的三维雷达散射图像ψ
法律状态
法律状态公告日
2014-12-17 2015-01-07 2017-02-15
公开
实质审查的生效 授权
法律状态信息
公开
法律状态
实质审查的生效 授权
权利要求说明书
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说明书
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