X射线断层扫描方法及系统[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：X射线断层扫描方法及系统专利类型：发明专利

发明人：石伟,梁栋,洪序达,蒋昌辉申请号：CN2016111735.4申请日：20161216公开号：CN107072022A公开日：20170818

摘要：本发明属于X射线成像技术领域，提供了一种X射线断层扫描方法及系统，所述方法包括：在扫描时，控制器按照预设的扫描模式逐个启动多焦斑X光源阵列上的X射线源进行脉冲式发射，并控制当前X射线源按照其预设的脉冲曝光时间照射扫描对象，以使得不同排布位置上的X射线源照射到扫描对象上的表面剂量趋于一致；探测器采集不同排布位置上的X射线源照射到扫描对象后的投影图像，并将所述投影图像传输到终端设备；终端设备根据所述投影图像重建出所述扫描对象的三维图像。本发明通过控制脉冲曝光时间来调整投影图像的质量，相对于调节管电流的方式硬件成本低、调节精度高，且可以在保证成像质量的前提下，有效地降低扫描过程的整体辐射剂量。

申请人：中国科学院深圳先进技术研究院

地址：518000 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号

国籍：CN

代理机构：深圳中一专利商标事务所

代理人：阳开亮

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