专利名称:X射线断层扫描方法及系统专利类型:发明专利
发明人:石伟,梁栋,洪序达,蒋昌辉申请号:CN2016111735.4申请日:20161216公开号:CN107072022A公开日:20170818
摘要:本发明属于X射线成像技术领域,提供了一种X射线断层扫描方法及系统,所述方法包括:在扫描时,控制器按照预设的扫描模式逐个启动多焦斑X光源阵列上的X射线源进行脉冲式发射,并控制当前X射线源按照其预设的脉冲曝光时间照射扫描对象,以使得不同排布位置上的X射线源照射到扫描对象上的表面剂量趋于一致;探测器采集不同排布位置上的X射线源照射到扫描对象后的投影图像,并将所述投影图像传输到终端设备;终端设备根据所述投影图像重建出所述扫描对象的三维图像。本发明通过控制脉冲曝光时间来调整投影图像的质量,相对于调节管电流的方式硬件成本低、调节精度高,且可以在保证成像质量的前提下,有效地降低扫描过程的整体辐射剂量。
申请人:中国科学院深圳先进技术研究院
地址:518000 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号
国籍:CN
代理机构:深圳中一专利商标事务所
代理人:阳开亮
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